台阶仪测量薄膜厚度的优缺点如下：
1、台阶仪测量薄膜厚度的优点：能够迅速测定薄膜的厚度及分布，可靠直观，具有相当准确的精度。
2、台阶仪测量薄膜厚度的缺点：不能记录表面上比探针直径小的窄裂缝、凹陷，由于触针的尖端直径很小，易将薄膜划伤、损坏。
现在要买薄膜测量仪的话，买哪个厂家的好？
公司致力于光电显示器件及应用系统的研发制造和太阳能开发，通过承担国家发改委批复的“高技术产业化示范项目——微结构背投影屏幕”以及国家信产部电子发展基金专项支持的“投影屏幕”和“空管视景系统”项目，在光学设计、高分子材料、精密模具设计制造、精密成型及成套工艺设备等领域建立了技术和产品领先优势。
菲斯特背投影屏幕产品自 2000 年正式面市以来，经过多次联机查新和市场反馈，发现至今国内尚无同类产品生产。菲斯特屏幕填补了国内空白，使我国成为继丹麦、美国、日本之后第四个拥有自主知识产权、掌握了该项技术的国家，并因此拥有国内“第一屏幕”的品牌形象和行业地位。同时也是屏幕行业国家标准的编审单位之一。
在微结构光学屏幕的基础上，菲斯特不断技术创新，相继开发了多种屏幕供应市场。特别是战斗机飞行模似器视景显示系统、大型空管视景模似系统专用的超大型特殊屏幕，以及为客户定制开发的高 4600 ㎜、长 15300 ㎜、直径φ 10000 ㎜的特种圆弧屏幕，即将用于空军某机场，这些均为国内首创。
菲斯特科技有限公司拥有完善的技术研发体系，是成都市光电显示工程技术研究中心的依托单位，已获得科技成果五项，已有发明专利七项，新型实用专利六项，专用技术近二十项。拥有进口的双层共挤有机板材和特种屏幕生产线、国内唯一的φ 2000 单点金刚石超精密菲涅尔透镜专用机床、全封闭隧道式浸涂生产线、菲涅尔镜复制生产线等先进生产装备及进口台阶仪、分光光度计等完善的检测设备。
公司始终关注高新技术产品的开发应用，并不断通过和国内外先进企业的合作推动企业发展和产品扩张。公司与多家研究机构和科研院所结成战略合作伙伴关系，分别在菲涅尔透镜、挤出板材、光固化高分子材料等方面展开合作，共同促进产品、产业的做大做强。
菲斯特希望用拥有完全自主知识产权的产品，为光电显示行业和太阳能开发行业的大发展锦上添花。
如果对厚度测量的要求不是特别精确，那么台阶仪相对较高，那么就使用椭偏仪。
光学薄膜测厚仪(光谱测厚仪系列)核心技术介绍及原理讲解广州金都科恩精密仪器有限公司为您解答:光谱测厚仪系列具有非接触无损测量、无需样品预处理、软件支持Windows操作系统等特点，ST系列是一种使用可见光测量在晶片和玻璃等基底上形成的氧化膜、氮化膜、光刻胶和其他非金属膜厚度的仪器。测量原理如下:用可见光垂直照射待测晶片或玻璃上的薄膜。在此期间，一部分光在薄膜表面反射，另一部分光穿透到薄膜内部，然后在薄膜与底层(晶片或玻璃)的界面反射。此时，从薄膜表面反射的光和从薄膜底部反射的光发生干涉。SpectraThick系列就是利用这种干涉现象来测量薄膜厚度的仪器。仪器的光源为钨灯，波长范围为400 nm ~ 800 nm。从ST2000到ST7000使用这个原理，测量区域的直径是4微米到40微米(2微米到20微米可选)。ST8000-Map作为K-MAC最重要的产品之一，具有图像处理功能，是超越一般膜厚测量仪极限的新概念测厚仪。被测区域的最小直径为0.2μm，远远超过一般测厚仪的测量极限(4μm)。只有依次测量几十个点才能得到的厚度图，也可以一次测量得到，大大提高了速度和精度。这项技术已经获得专利。韩国K-MAC SpectraThick系列的另一个优点是在一般仪器无法测量的粗糙表面(如铁板、铜板)上形成的膜厚也可以测量。这是一种叫做视觉厚度的新概念的测量原理。除了测量薄膜厚度之外，它还具有测量透射率、在玻璃上形成的ITO薄膜的表面电阻、接触角等功能。目前国内外半导体行业和光刻胶行业很多知名企业都选择了K-MAC膜厚仪。广州金都科恩精密仪器有限公司是中国的总代理，您可以通过访问企业网站了解更多关于不同应用仪器的信息。。产品说明:本仪器是将紫外-可见光照射在被测物体上，利用被测物体反射的光来测量薄膜厚度的产品。本产品主要用于导电膜领域的研发或生产，特别是作为半导体在线监测仪器及相关显示工作。产品特点1)由于使用的是光，所以是非接触、非破坏性的，不会影响实验样品。2)可以获得薄膜的厚度和n、k数据。3)测量快速准确，不需要对测量用实验样品进行破坏或处理。4)可以测量3层以内的多层膜。5)可根据应用自由选择手动或自动类型。6)产品风格多样，也可根据客户要求设计产品。7)晶圆/LCD(载物台尺寸3”)上可测量的薄膜厚度8)桌面型，适用于大学、研究实验室等。
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